效超薄窗X光管,指標達到國際先進水平
新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
技術參數
產品型號:EDX 4500H
產品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
性能特點
高效超薄窗X光管,指標達到國際先進水平
新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然

XRF光譜儀比前幾代更小、更靈敏、用戶使用更方便
XRF光譜儀其靈敏度比之前的版本高出四倍。該儀器覆蓋從氟到鈾的所有周期表元素,增強了靈敏度和靈活性以更好獲得樣品的全部元素組成。
XRF光譜儀包含50Wx射線管和新一代硅漂移檢測器(SDD),可進行光元素和小斑點分析。該儀器比其前身需要更少的實驗室空間,還能適應XRF分析中使用的常規(guī)大小、以及大型和不規(guī)則形狀的樣品。
XRF光譜儀能分析從石油化工、采礦和水泥到法醫(yī),寶石學和環(huán)境控制各種應用的材料特性。
光譜儀的優(yōu)點包括:
·可用于Windows10的WinTrace軟件,為用戶提供更加的界面,可以輕松地將結果導出到外部計算機或LIMS;
·通過程序進行無標準分析,可進行小至1mm的小點分析;
·大型樣品室,允許儀器接受不規(guī)則形狀的樣品,長度范圍為0.5厘米至40厘米,高度至5厘米,甚至還有30x40x36厘米樣品的樣品室可選。

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