產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線(xiàn)路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）

XRF光譜儀比前幾代更小、更靈敏、用戶(hù)使用更方便
XRF光譜儀其靈敏度比之前的版本高出四倍。該儀器覆蓋從氟到鈾的所有周期表元素，增強(qiáng)了靈敏度和靈活性以更好獲得樣品的全部元素組成。
XRF光譜儀包含50Wx射線(xiàn)管和新一代硅漂移檢測(cè)器（SDD），可進(jìn)行光元素和小斑點(diǎn)分析。該儀器比其前身需要更少的實(shí)驗(yàn)室空間，還能適應(yīng)XRF分析中使用的常規(guī)大小、以及大型和不規(guī)則形狀的樣品。
XRF光譜儀能分析從石油化工、采礦和水泥到法醫(yī)，寶石學(xué)和環(huán)境控制各種應(yīng)用的材料特性。
光譜儀的優(yōu)點(diǎn)包括：
·可用于Windows10的WinTrace軟件，為用戶(hù)提供更加的界面，可以輕松地將結(jié)果導(dǎo)出到外部計(jì)算機(jī)或LIMS；
·通過(guò)程序進(jìn)行無(wú)標(biāo)準(zhǔn)分析，可進(jìn)行小至1mm的小點(diǎn)分析；
·大型樣品室，允許儀器接受不規(guī)則形狀的樣品，長(zhǎng)度范圍為0.5厘米至40厘米，高度至5厘米，甚至還有30x40x36厘米樣品的樣品室可選。

采用高分辨率SDD或者Sipin探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量，同時(shí)還可以測(cè)試鎘和鉛等有害物質(zhì)。測(cè)試結(jié)果完全符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2013要求。
、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測(cè)試對(duì)象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時(shí)分析元素：幾十種元素同時(shí)分析
5、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
6、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線(xiàn)性回歸程序
8、多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：150*150*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測(cè)量時(shí)間 10-200S可以調(diào)

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線(xiàn)激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線(xiàn)路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

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