1.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)優(yōu)點
光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)采用的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測器電子驅(qū)動技術(shù)和寬動態(tài)線性技術(shù)，整個系統(tǒng)達到雜散低、動態(tài)范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統(tǒng)機械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計）、積分球、精密交直流電源、校準定標系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)參考標準（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測量部分標準）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)測量參數(shù)：  

色品坐標（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標（u,v）、色品坐標（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。

光譜分析儀是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標參數(shù)的儀器。廣泛應用于科研、教學、工業(yè)等多領(lǐng)域。CNI提供、、軟件分析等產(chǎn)品。
光譜分析儀的優(yōu)點：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結(jié)果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎(chǔ)上。
光譜分析儀的缺點：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能做為認證依據(jù)。
3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不新，在儀器發(fā)生變化或者標準樣品發(fā)生變化時，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7.易受光學系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問題，對檢測結(jié)果的準確度影響較大。

如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應的激發(fā)態(tài)。原來提供能量的光經(jīng)分光后譜線中缺少了一些特征光譜線，因而產(chǎn)生原子吸收光譜。

當原子從較高能級躍遷到基態(tài)或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數(shù)；v及λ分別為所發(fā)射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。
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