XRF優(yōu)點、缺點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點
a）難于作分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

合金由兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬經一定方法所合成的具有金屬特性的物質。一般通過熔合成均勻液體和凝固而得。根據(jù)組成的元素的數(shù)目，可分為二元合金，三元合金以及多元合金。
根據(jù)結構的不同，合金主要分為以下幾種類型：
(1)混合物合金（共熔混合物），當液態(tài)合金凝固時，構成合金的各組分分別結晶而成的合金，如焊錫、鉍鎘合金等；
(2)固熔體合金，當液態(tài)合金凝固時形成固溶體的合金，如金銀合金等；
(3)金屬互化物合金，各組分相互形成化合物的合金，如銅、鋅組成的黃銅（β-黃銅、γ-黃銅和ε-黃銅）等。
一般來說各類型的合金都有以下通性：
(1)多數(shù)合金熔點低于其組分中任一種組成金屬的熔點；
(2)硬度比其組分中任一金屬的硬度大；
(3)合金的導電性和導熱性低于任一組分金屬。利用合金的這一特性，可以制造高電阻和高熱阻材料。還可制造有性能的材料，如在鐵中摻入15鉻和9鎳得到一種耐腐蝕的不銹鋼，適用于化學工業(yè)。
(4)有的抗腐蝕能力強(如不銹鋼)。
由于合金具有許多優(yōu)于純金屬的特性，故在實際生產，生活的材料應用中大多使用合金材料。
并且為便于合金材料的使用，世界各國均根據(jù)本國的實際情況對合金材料依據(jù)其所具有的物理性能（如比重、熔點、導電性、導熱性、熱膨脹性、磁性等）、化學性能（耐用腐蝕性、抗氧化性），力學性能（機

秉承20多年X熒光光譜儀研發(fā)經驗，天瑞儀器全新一代手持XRF礦石分析儀——探索者EXPLORER 7000再次帶來了一場分析領域的改革。EXPLORER 7000引入數(shù)字多道技術，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡單、輕松。
地礦行業(yè)應用優(yōu)勢
檢測元素：標準配置可檢測60種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素
性：礦石版分析軟件，采用智能一鍵測試
*個性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*準確界定礦山邊界
內置GPS功能，在野外可隨時搜索衛(wèi)星信號，在測試時可隨時記錄測量的經緯度、海拔高度，確定取樣點的地理位置信息，并隨測試報告同時保存。
*獲得的坐標分析數(shù)據(jù)可繪制成礦山礦石分布圖，從而快速普查大范圍礦區(qū)，準確掌握礦脈走向，界定礦山邊界，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)，大大提高生產效率。
*內置藍牙功能，配置藍牙打印機后，可實現(xiàn)重點礦區(qū)原位測試的“邊測邊打”功能。
*充分挖掘礦山價值

硬件難有大突破，已成為實驗室重要工具
儀器信息網：7月22日，歐盟RoHS 2.0正式實施，對中國的XRF市場產生了哪些影響？從貴公司近期的銷售情況看，是否已有所體現(xiàn)？
自從7.22日歐盟RoHS2.0正式實施后，對中國的制造業(yè)也有了更高的要求，需要大部份制造企業(yè)增加檢測成本，配備自已的實驗室。由于RoHS2.0與1.0的區(qū)別主要是增加了4項鄰笨物質，從分析設備上看只是在XRF的基礎上增加了GC-MS，對XRF來說，2.0與1.0檢測重金屬元素來說沒有本質性區(qū)別。從天瑞儀器近期的銷售情況來看，GC-MS在上半年增了270左右就很好的體現(xiàn)了影響。但是對XRF產品基本沒有影響。
儀器信息網：從整個行業(yè)的角度看，就目前的XRF技術，您比較看好哪些？又有哪些亟待解決的問題？XRF技術的未來發(fā)展趨勢有哪些？
從整個行業(yè)的角度來看，目前的XRF技術隨著光管和探測器的發(fā)展，性能上已經有了很大的提高，但短時間內再有突破性提升的可能性不大。對于國內分析儀器來講，的問題還是核心部件及加工工藝，這是目前阻礙國產分析儀器發(fā)展的障礙。我認為 XRF技術發(fā)展趨勢主要在于應用、以及方法上的普及，在短時間內很難再有大的提高了。
http://kashidunmc.com